合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置

Inventor： , , ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：清水守
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003012989
Publication number (International publication number)：2004226184
Application date： Jan. 22, 2003
Publication date： Aug. 12, 2004
Summary：

【課題】微小物質の光学異性、回転依存性、円偏光励起蛍光、磁気光学特性、スピン依存性などを顕微分光できる合成エバネッセント波暗視野励起による局所偏光顕微鏡分析・分光方法および装置とこれを応用した物質操作方法および装置を提供する。【解決手段】誘電体表面に発生するTEエバネッセント波を、その伝搬方向が直交するように二つ重ね合わせる手段と、これを同一周波数かつ一定位相差に保つとき生ずる、エバネッセント波の波長に応じた周期で繰り返す格子状の局所偏光パターンを、微小物質12の照明あるいは励起に用いる手段と、2次元方向に走査する微小開口14を有するプローブ13と、前記微小開口14を通じて前記微小物質12を選択し、一体化した安定な偏光分析系15,16,17,18,19,20と、この偏光分析系15,16,17,18,19,20を用いて前記微小物質12の偏光を分解し、測定する冷却CCD21とを具備する。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

誘電体表面に発生する横電場モード(TE)エバネッセント波を、その伝搬方向が直交するように二つ重ね合わせ、これを同一周波数かつ一定位相差に保つときに生ずる、エバネッセント波の波長に応じた周期で繰り返す格子状の局所偏光パターンを、微小物質の照明あるいは励起に用い、極微弱光を観測可能な暗視野照明でありながら円偏光励起が可能であり、かつ偏光変調も併用できる、高コントラストを有する局所偏光顕微鏡分析・分光方法。

IPC (4)：

G01N21/64 , G01N21/21 , G01N21/27 , G02B21/10

FI (7)：

G01N21/64 G , G01N21/64 A , G01N21/64 E , G01N21/21 Z , G01N21/27 C , G01N21/27 E , G02B21/10

F-Term (37)：

2G043AA03 , 2G043BA16 , 2G043CA05 , 2G043EA01 , 2G043FA02 , 2G043HA01 , 2G043HA07 , 2G043HA09 , 2G043HA15 , 2G043JA01 , 2G043KA07 , 2G043KA09 , 2G043LA03 , 2G059AA05 , 2G059BB08 , 2G059BB12 , 2G059CC16 , 2G059EE02 , 2G059EE05 , 2G059EE07 , 2G059FF03 , 2G059GG01 , 2G059GG06 , 2G059JJ01 , 2G059JJ12 , 2G059JJ19 , 2G059JJ20 , 2G059JJ22 , 2G059KK04 , 2G059MM01 , 2H052AA01 , 2H052AA07 , 2H052AC06 , 2H052AC09 , 2H052AC34 , 2H052AF06 , 2H052AF14

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (6)

プリズムステージ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-068453 Applicant：キヤノン株式会社
光近接場励起スピン偏極走査型トンネル顕微鏡用プローブ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-308421 Applicant：科学技術振興事業団
偏光を利用した走査型近視野顕微鏡
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-134178 Applicant：セイコーインスツルメンツ株式会社

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Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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