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J-GLOBAL ID：200903083856947589

3次元計測方法及び画像処理装置

Inventor： 奥富 正敏 ,  吉崎 修 ,  古賀 慎一郎
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 丸島 儀一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993119846
Publication number (International publication number)：1994331316
Application date： May. 21, 1993
Publication date： Dec. 02, 1994
Summary：

【要約】【目的】 複数のステレオ撮影画像を用いて前記対象物体の3次元位置情報を得る方法において、撮影条件や撮影状態の違いによらず、容易に比較による計測が行える様にする。【構成】 所定パターンPPを対象物体に投影した状態で対象物体のステレオ画像撮影を行なって、得られた複数のステレオ撮影画像上の所定パターンの形状に基づいて、コンピュータ13で対象物体の3次元位置情報を求める。

Claim (excerpt)：

所定パターンを対象物体に投影した状態で該対象物体のステレオ画像撮影を行なって得られた複数のステレオ撮影画像を用いて前記対象物体の3次元位置情報を得ることを特徴とする3次元計測方法。

IPC (5)：

G01B 11/00 ,  A61B 3/14 ,  G01B 11/24 ,  G06F 15/62 415 ,  H04N 13/00