Pat

J-GLOBAL ID：200903083867765458

斜角探傷方法および装置

Inventor： 古賀 和則 ,  大浦 雄大 ,  高橋 文信
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  バブコック日立株式会社
Agent (1)： 武 顕次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996051766
Publication number (International publication number)：1997243608
Application date： Mar. 08, 1996
Publication date： Sep. 19, 1997
Summary：

【要約】【課題】 非対象物からの反射波のように特定位置のノイズを低減し、対象物からの反射波強度のみを高め、斜角探傷における検出信号の相対的なSN比を向上させる。【解決手段】 探触子14と欠陥21の相対位置に応じて、被検査体20からの反射波のみの位相を同位相に合わせるように時間シフト量を設定する。この時間シフト量を有する各位置の受信信号同志の波形加算処理を波形データ演算部6で実施することにより、対象物からの反射波のみの強度を高める。一方、非対象物からの反射波では各位置の受信信号の位相が異なるため、この波形加算処理によりその強度は低下する。これにより斜角探傷において検出信号の相対的なSN比を向上させることができ、溶接部の微小欠陥の検出が可能となる。

Claim (excerpt)：

被検査体上で超音波探触子を走査し、被検査体内に被検査体の表面に対して斜めの入射角で超音波を送信するとともに対象物からの反射信号を受信して得られた対象物の反射波データと超音波探触子の位置信号から対象物の有無と位置を検出する斜角探傷方法において、前記超音波探触子と対象物の相対位置に応じて遅延時間を設定する工程と、当該設定された遅延時間ずれた受信信号の波形を加算する工程と、を含み、前記受信信号の波形の加算により反射波強度を高めて前記検出を行うことを特徴とする斜角探傷方法。

IPC (5)：

G01N 29/04 502 ,  G01N 29/10 505 ,  G01N 29/10 507 ,  G01N 29/22 504 ,  G21C 17/003

FI (5)：

G01N 29/04 502 ,  G01N 29/10 505 ,  G01N 29/10 507 ,  G01N 29/22 504 ,  G21C 17/00 F

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭61-159156
  
• 特開昭64-057165