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J-GLOBAL ID:200903083887241641

核磁気共鳴を用いた検査方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 小川 勝男
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992210072
Publication number (International publication number):1994054816
Application date: Aug. 06, 1992
Publication date: Mar. 01, 1994
Summary:
【要約】【目的】 核磁気共鳴を用いた拡散係数分布の計測法の計測時間を短縮する。【構成】 見かけの拡散係数分布の計測法では、高周波パルス2によるグラディントエコーE1とスピンエコーE2を1つのシーケンスで計測する。拡散現象による信号減衰効果を強調するための傾斜磁場パルスとして、バイポーラー傾斜磁場パルスを用い、E1には1組のバイポーラー傾斜磁場パルスGd3、Gd4を印加し、E2には2組のバイポーラー傾斜磁場パルスGd1、Gd2、Gd3、Gd4を印加することにより、傾斜磁場パルスの印加量の異なる2つの画像を1つのシーケンスで計測することができ、これらの画像から見かけの拡散係数分布を求める。【効果】 従来法の半分の時間に計測時間を短縮できる。
Claim (excerpt):
静磁場と傾斜磁場および高周波磁場の発生手段と、検査対象からの核磁気共鳴信号を検出する信号検出手段と、この信号検出手段の検出信号の処理を行う計算機とを備えた核磁気共鳴装置における核磁気共鳴を用いた検査方法において、バイポーラー傾斜磁場パルスの影響が小さいかあるいは零である第1のエコーを計測する第1の工程と、バイポーラー傾斜磁場パルスの影響が前記第1のエコーよりも大きい第2のエコーを計測する第2の工程とを含むことを特徴とする核磁気共鳴を用いた検査方法。
IPC (2):
A61B 5/055 ,  G01R 33/46
FI (2):
A61B 5/05 312 ,  G01N 24/08 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開平1-135340
  • 特開平2-149251

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