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J-GLOBAL ID：200903083932024380

微小試験片用疲労試験機

Inventor： 土居 博昭 ,  河野 賢哉 ,  南谷 林太郎 ,  初田 俊雄
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 高田 幸彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991250851
Publication number (International publication number)：1993087718
Application date： Sep. 30, 1991
Publication date： Apr. 06, 1993
Summary：

【要約】【構成】変位発生部,荷重検出部,試験片固定部、及びこれらを保持する筐体5よりなる疲労試験機において試験時に生じる荷重を検出し、この荷重とあらかじめ測定した筐体5の荷重-たわみ関係を用い算出した試験片の変位を目標値に一致させるように変位発生部の変位を制御する。【効果】変位測定装置を取り付けことができない微小な試験片に対して検出荷重を用い変位制御の疲労試験を行うことができる。

Claim (excerpt)：

変位発生部,荷重検出部,試験片の固定部、及びこれらを保持する筐体よりなる疲労試験機において、試験時に生じる荷重を検出し、前記荷重とあらかじめ測定した筐体の荷重-たわみ関係を用い算出した試験片の変位を、目標値に一致させるように前記変位発生部の変位を制御することを特徴とする微小試験片用疲労試験機。