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J-GLOBAL ID：200903083951870399

固定サンプリングによる高調波検出方法

Inventor：
金山 哲也

About 金山 哲也

, 
白砂 浩章

About 白砂 浩章


Applicant, Patent owner：
株式会社明電舎

About 株式会社明電舎


Agent (1)： 志賀 富士弥 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995028967
Publication number (International publication number)：1996221387
Application date： Feb. 17, 1995
Publication date： Aug. 30, 1996
Summary：
【要約】【目的】 固定サンプリング方式により電力系統に含まれる高調波成分を盤内で正確に測定する方法の提供を目的とする。【構成】 1周期をm点でサンプリングし、任意周期分のサンプリングデータを収集し、このうち1周期分のサンプリングデータについてフーリエ変換してn次調波成分をm点演算する。この演算結果を実数分と虚数分に分解して全サンプリングデータのベクトル和を求め、ベクトル量として平均化して第n次高調波の実効値を得る。
Claim (excerpt)：
測定入力の基本波周波数に含まれる高調波成分を固定サンプリングでフーリエ交換して検出する方法において、前記基本波を任意の周波数にてサンプリングし、サンプリングされたデータのうち基本波1周期分のサンプリングデータを収集し、フーリエ変換してn次調波(nは任意の整流)成分を演算し、この演算結果を実数成分と虚数成分とに分解し、これら基本波1周期分のサンプリングデータ収集より実数成分、虚数成分の分解までの演算を順次サンプリング開始位相を1サンプリング分ずつ進めながら基本波1周期分のサンプリング回数分実行し、この実数成分、虚数成分の総和を求め、n次高調波成分の実効値をベクトル量の平均化処理で得るようにしたことを特徴とする固定サンプリングによる高調波検出方法。
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (5)
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