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J-GLOBAL ID：200903084006571357

マイクロ波分光学により分析される微粒子標識結合試験法

Inventor： ロバート・ティー・バックラー ,  ポール・オー・ボゲルハット
Applicant, Patent owner： マイルス・インコーポレーテツド
Agent (1)： 津国 肇 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992173637
Publication number (International publication number)：1993188013
Application date： Jun. 09, 1992
Publication date： Jul. 27, 1993
Summary：

【要約】【構成】 試験試料中にリガンドが無い場合の試験混合物の比誘電率とは有意に異なる有効比誘電率を有する微粒子が、試験試料中のリガンドの存在又は量の関数又は逆関数として凝集する液状試験混合物を形成する工程、及びマイクロ波領域内で、該試験混合物の誘電特性の変化を測定する工程を含む、試験試料中のリガンドを測定する方法。【効果】 感度が高く、検定時間が短く、さらに検出システムの小型化による多大な経済性と使用上の便利さを提供する。また一般的有機物質の干渉を受けない。

Claim (excerpt)：

(a)試験試料中にリガンドが無い場合の試験混合物の比誘電率とは有意に異なる有効比誘電率を有する微粒子が、試験試料中のリガンドの存在又は量の関数又は逆関数として凝集する液状試験混合物を形成する工程、及び(b)マイクロ波領域内で、該試験混合物の誘電特性の変化を測定する工程、を含むことを特徴とする試験試料中のリガンドを測定する方法。

IPC (3)：

G01N 22/00 ,  G01N 33/53 ,  G01N 33/543