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J-GLOBAL ID：200903084196126419

画像化方法

Inventor： ハイスマン、ビェルン
Applicant, Patent owner： シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト
Agent (1)： 山口 巖
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2006504507
Publication number (International publication number)：2006520223
Application date： Mar. 02, 2004
Publication date： Sep. 07, 2006
Summary：

本発明は、検査対象、特に患者(P)の画像化検査方法に関する。この方法において、まず検査対象に造影剤(KM)が投与される。その後にX線減弱値の少なくとも2つの空間分布が求められ、それらのX線減弱値はそれぞれ局部的X線減弱係数(μ(x,y))またはこれと線形関係にある量(C)であり、2つの空間分布は、少なくとも、第1のX線スペクトルに基づいて求められた第1の減弱値分布(μ1(x,y))と、第1のX線スペクトルとは異なる第2のX線スペクトルに基づいて求められた第2の減弱値分布(μ2(x,y))とを含む。その後両減弱値分布の評価により、1つ又は複数の予め定められた原子番号値(Z;Z1,Z2,・・・)の空間分布または検査対象内に予め存在する予め定められていない原子番号値の空間分布(Z(x,y))が求められ、この空間分布は検査対象に投与された造影剤(KM)の分布に関する情報を含んでいる。空間的原子番号分布は画像内での造影剤(KM)の表示に使用される。

Claim (excerpt)：

a)検査対象に造影剤(KM)が投与され、 b)その後にX線減弱値の少なくとも2つの空間分布(μ1(x,y),μ2(x,y))が求められ、それらのX線減弱値はそれぞれ局部的なX線減弱係数(μ(x,y))またはこれと線形関係にある量(C)であり、2つの空間分布(μ1(x,y),μ2(x,y))は、少なくとも、 ・第1のX線スペクトルに基づいて求められた第1の減弱値分布(μ1(x,y))と、 ・第1のX線スペクトルとは異なる第2のX線スペクトルに基づいて求められた第2の減弱値分布(μ2(x,y))と を含み、 c)両減弱値分布(μ1(x,y),μ2(x,y))の評価により、1つ又は複数の予め定められた原子番号値(Z;Z1,Z2,・・・)の空間分布または検査対象内に予め存在する予め定められていない原子番号値の空間分布(Z(x,y))が求められ、この空間分布は検査対象に投与された造影剤(KM)の分布に関する情報を含み、 d)空間的原子番号分布(Z(x,y))は造影剤(KM)の画像化表示に使用される ことを特徴とする検査対象、特に患者(P)の画像化検査方法。

IPC (2)：

A61B 6/03 ,  G06T 1/00

FI (4)：

A61B6/03 373 ,  A61B6/03 375 ,  A61B6/03 360J ,  G06T1/00 290A

F-Term (25)：

4C093AA22 ,  4C093AA24 ,  4C093CA23 ,  4C093DA01 ,  4C093DA02 ,  4C093EA07 ,  4C093FC12 ,  4C093FD07 ,  4C093FD11 ,  4C093FF16 ,  4C093FF33 ,  4C093GA01 ,  5B057AA08 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057CB02 ,  5B057CB08 ,  5B057CB12 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE11