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J-GLOBAL ID:200903084295654664

六方晶半導体の結晶成長方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大胡 典夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991189108
Publication number (International publication number):1993036602
Application date: Jul. 30, 1991
Publication date: Feb. 12, 1993
Summary:
【要約】【目的】 SiC結晶において欠陥の少なく、表面モフォロジーの良好なSiC結晶の成長方法を提供する。【構成】 ヘキサゴナールまたはロンボヘドラル結晶のSiCを主成分とする結晶において(0001)面基板を用い、且つ該基板上に溝を形成した後、基板と同一の結晶を成長する。【効果】 表面モフォロジーが非常によくなり、製品化プロセスでの歩留りが向上するとともに発光効率の顕著に優れた発光ダイオードが得られる。
Claim (excerpt):
(0001)面を有する六方晶半導体基板を用意する工程と、前記基板の主面に線状の凹凸部を形成する工程と、前記主面に前記基板と同じ結晶構造の半導体単結晶を成長形成する工程を含む六方晶半導体の結晶成長方法。
IPC (4):
H01L 21/20 ,  H01L 21/208 ,  H01L 21/36 ,  H01L 33/00
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開昭63-319294

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