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J-GLOBAL ID:200903084382545570
半導体装置を平坦化する方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
頓宮 孝一 (外4名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992275904
Publication number (International publication number):1993218000
Application date: Oct. 14, 1992
Publication date: Aug. 27, 1993
Summary:
【要約】【目的】 本発明の目的は、平坦な表面を有する半導体装置を提供することにある。【構成】 VLSIなどの、金属被覆した半導体チップを、第1のSiO2の層でコーティングした後、エッチ・ストップとして、CVDダイアモンドまたはDLCの第2の層でコーティングする。得られた構造は、化学・機械研磨スラリおよび適当な研磨パッドを使用して、再現可能、制御可能に平坦化され、後続の各層を同様にして次々に形成することができる。【効果】
Claim (excerpt):
表面構造を配設した平坦な基板を用意する工程と、基板および表面構造全体を、絶縁材料の第1の層でコーティングする工程と、第1の層を、ダイアモンドまたはダイアモンド状炭素を含む第2の層でコーティングする工程と、第1の層と第2の層とを、スラリ中で研磨パッドを使用して化学・機械研磨を行う工程と、全体が実質的に平坦になった時点で加工を停止する工程とを含む、半導体装置を平坦化する方法。
IPC (2):
H01L 21/306
, H01L 21/304 321
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
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特開昭63-251164
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特開昭61-240629
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