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J-GLOBAL ID：200903084385411906
物体の変位状態計測方法および変位状態計測装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
森本 義弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993322989
Publication number (International publication number)：1995181075
Application date： Dec. 22, 1993
Publication date： Jul. 18, 1995
Summary：
【要約】【目的】 作業員が物体の計測対象部分に移動する必要がない安全な変位状態計測方法を提供する。【構成】 予め物体の計測対象部分を、カメラ装置1により、サンプル画像データとして取り込むとともに、この取り込まれたサンプル画像データを、順次ずらせるとともに、それぞれに対応する自己相関関数を求め、これら各自己相関関数値と、これに対応するずれ量を参照テーブルとして記憶させ、次に実際の計測対象部分を、カメラ装置1により、順次、画像データとして取り込み、この画像データと所定の基準画像データとの相互相関関数を求め、上記参照テーブルを参照して、この相互相関関数値に対応するずれ量を求め、基準画像データを考慮してこのずれ量から変位量を求め、この変位量にフーリエ変換を施し、振動解析を行う計測方法である。
Claim (excerpt)：
予め物体の計測対象部分を、カメラ装置により、サンプル画像データとして取り込むとともに、この取り込まれたサンプル画像データを、順次ずらせるとともに、それぞれに対応する自己相関関数を求め、これら各自己相関関数値と、これに対応するずれ量を参照テーブルとして記憶させ、次に実際の計測対象部分を、カメラ装置により、順次、画像データとして取り込み、この画像データと所定の基準画像データとの相互相関関数を求め、上記参照テーブルを参照して、この相互相関関数値に対応するずれ量を求め、このずれ量から上記基準画像データを考慮して画像の変位量を求めるとともに、この変位量にフーリエ変換を施し、振動解析を行うことを特徴とする物体の変位状態計測方法。
IPC (2)：
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