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J-GLOBAL ID：200903084396171982

微粒子測定装置

Inventor： 鈴木 修司
Applicant, Patent owner： 住友金属鉱山株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993029601
Publication number (International publication number)：1994221985
Application date： Jan. 27, 1993
Publication date： Aug. 12, 1994
Summary：

【要約】【目的】 小型で高感度の微粒子測定装置を提供する。【構成】 レーザーダイオード励起固体レーザーシステムの共振器中に試料管を配置すると共に、試料管内の測定試料中に存在する微粒子による散乱光を集光検出する測定系を2組配置した。

Claim (excerpt)：

レーザーダイオードと、該ダイオードからの励起光を集光するレンズと、該集光励起光を受けて特定波長の光を放出するレーザー結晶と、該レーザー結晶の入射面に設けられたレーザー発振光高反射膜と一対で光共振器を構成するミラーとからなるレーザーダイオード励起固体レーザーシステムの、その共振器中にレーザー光の光軸と垂直に交差するようにレーザー発振光に対して非反射コートを表面に施した中空構造の試料管が配置され、該試料管からの散乱光を集光するレンズと該集光散乱光の波長の光のみを透過する光学フィルターと該フィルターを通した光の強度を測定する光検出器とからなる散乱光測定系を2組、前記共振器に近接して互いに平行に配置されてなる、微粒子測定装置。

IPC (3)：

G01N 15/02 ,  G01N 15/14 ,  G01N 21/53