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J-GLOBAL ID：200903084465926974
断線検査方法及び装置
Inventor：
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
荒井 潤
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002274888
Publication number (International publication number)：2004109038
Application date： Sep. 20, 2002
Publication date： Apr. 08, 2004
Summary：
【課題】効率よく確実に断線を検査でき、検査の自動化が可能な断線検査方法及び装置を提供する。【解決手段】ガラス面に導体パターンが形成されたガラス板1を撮影する熱線カメラ7と、例えば前記導体パターンの反対面側のガラス面を吸着してガラス板を移動させる搬送ロボット2と、ガラス板1を検査位置に保持するクランプ装置3と、ガラス板1の導体パターンに所定の検査電圧を付加する給電装置4と、前記熱線カメラ7で撮影した熱画像から断線を判定するCPU6とを備えた断線検査装置。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
ガラス面に導体パターンが形成されたガラス板を熱線カメラで撮影してその熱画像から前記導体パターンの断線を判定する断線検査方法であって、
8〜14μmの波長を前記熱線カメラの測定波長として前記導体パターンの形成面側から撮影し、その熱画像を予め登録された基準パターンの熱画像と比較することにより断線を判定することを特徴とする断線検査方法。
IPC (1)：
FI (1)：
F-Term (11)：
2G051AA85
, 2G051AB20
, 2G051AC30
, 2G051BA06
, 2G051CA04
, 2G051CB10
, 2G051DA01
, 2G051EA12
, 2G051ED04
, 2G051ED08
, 2G051ED11
Cited by examiner (3)
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配線パターン検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平10-145298
Applicant：オプトレックス株式会社, 広島オプト株式会社
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板ガラスに形成された導電線の断線検査方法およびその装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2002-015206
Applicant：セントラル硝子株式会社
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欠陥検査システム
Gazette classification：公開公報
Application number：特願平11-268753
Applicant：オリンパス光学工業株式会社
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