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J-GLOBAL ID:200903084567330120
プラント解析診断システム
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
高田 守
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993106756
Publication number (International publication number):1994318112
Application date: May. 07, 1993
Publication date: Nov. 15, 1994
Summary:
【要約】【目的】 プラントの解析・診断の効率向上。【構成】 製品管理情報定義テーブル10を設けて製品管理定義情報を格納する。CPU1は、収集データ定義テーブル8および上記テーブル10に格納されている定義情報に従って、プラントから製品管理情報を取り込むとともにプラントデータの収集を行い、ディスク装置5に格納する。ディスク装置5に格納された製品管理情報は端末装置3において一覧表示させ得る。この際、その表示中から所望の製品ロットを選択して、そのプラントデータのトレンドを前回選択した製品ロットのトレンドと重ね合わせて比較表示させ得る。また、時間幅データを設定すれば、その時間幅内で指定したトレンドを移動させ、別に指定したトレンドとの間での面積が最小となるように、時間軸を自動調整できる。
Claim (excerpt):
製品ロット毎にプラントからプラントデータを収集し解析・診断するプラント解析診断システムにおいて、製品管理情報を取り込むために必要な定義情報が格納された製品管理情報定義テーブルと、この製品管理情報定義テーブルに格納された定義情報に従って製品ロット毎にプラントから製品管理情報を取り込む製品管理情報取込手段とを備え、前記製品ロット毎のプラントデータと製品管理情報とを関連づけて管理することを特徴とするプラント解析診断システム。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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特開昭62-083904
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特開昭54-146256
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特開昭63-094308
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特開平3-216705
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特開平1-155212
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