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J-GLOBAL ID：200903084590442296

三次元物体の計測方法

Inventor： 荒木 秀和 ,  中原 智治
Applicant, Patent owner： 松下電工株式会社
Agent (1)： 石田 長七 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994025680
Publication number (International publication number)：1995234111
Application date： Feb. 23, 1994
Publication date： Sep. 05, 1995
Summary：

【要約】【目的】 計測精度と計測信頼性とを常にバランス良く得る。また、エッジの方向に依存することなく計測を行う。【構成】 異なる視点から撮像した対の画像から夫々エッジ画像を求めた後、一方のエッジ画像内におけるエッジ点と他方のエッジ画像のエッジ点のうち両視点の配列方向において一直線上に並んでいるエッジの位置の相対差を求め、この相対差である視差の度数分布から視差を決定して物体の三次元位置座標を求めるにあたり、3点以上の異なる視点から画像を撮像して、これら画像のうちの1つと残る他の画像との間で夫々視差度数分布を求めるとともに各画像対の視点間距離に基づく補正を行い、補正後の視差度数分布から作成した統合視差度数分布から最大度数を示す視差を求めて、この視差に基づき物体の位置座標を得る。

Claim (excerpt)：

三次元物体を異なる視点から撮像した対の画像から夫々エッジ画像を求めた後、一方のエッジ画像内のエッジ点と他方のエッジ画像のエッジ点のうち両視点の配列方向において一直線上に並んでいるエッジの位置の相対差を求め、この相対差である視差の度数分布から視差を決定して物体の三次元位置座標を求める三次元物体の計測方法において、3点以上の異なる視点から画像を撮像して、これら画像のうちの1つと残る他の画像との間で夫々視差度数分布を求めるとともに各画像対の視点間距離に基づく補正を行い、補正後の視差度数分布から作成した統合視差度数分布から最大度数を示す視差を求めて、この視差に基づき物体の位置座標を得ることを特徴とする三次元物体の計測方法。

IPC (4)：

G01B 11/24 ,  G01B 11/24 101 ,  G06T 7/00 ,  G06T 7/20

FI (2)：

G06F 15/62 415 ,  G06F 15/70 400