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J-GLOBAL ID：200903084592597130

3次元形状測定方法および装置

Inventor： 曽我部 靖
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 滝本 智之 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997281701
Publication number (International publication number)：1999118438
Application date： Oct. 15, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：

【要約】【課題】 撮像装置の光学条件や位置をあらかじめ測定する必要なく、しかも自由な撮像位置から被測定物を撮像することにより、自動的に被測定物の形状を得ることのできる3次元形状測定方法および装置を提供すること。【解決手段】 撮像装置の光学条件と位置条件を検出する検出器を有し、撮像時の光学条件と位置条件を検出し、3次元形状を測定する。このことにより、被測定物を自由な位置から撮像しても、撮像時の光学条件と位置条件を検出できるため、得られた画像と光学条件と位置条件から、3次元形状を測定することができる。

Claim (excerpt)：

撮像装置により、空間上の任意の複数位置から、被測定物の複数の撮像画像を得る撮像ステップと、前記撮像ステップにおける前記撮像装置の前記空間上の位置と撮像方向を検出する検出ステップと、前記検出ステップで得られた撮像装置の空間上の位置と撮像方向と、前記被測定物の任意の位置の、前記撮像ステップで得られた前記複数の撮像画像における位置を検出し、対応点を検出することにより、前記被測定物の3次元形状を測定する3次元形状測定方法。

IPC (3)：

G01B 11/24 ,  G06T 7/00 ,  H04N 13/02

FI (3)：

G01B 11/24 A ,  H04N 13/02 ,  G06F 15/62 415