Pat
J-GLOBAL ID:200903084612749510
測定器
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001111066
Publication number (International publication number):2002310734
Application date: Apr. 10, 2001
Publication date: Oct. 23, 2002
Summary:
【要約】【課題】 測定データの格納容量を比較的安価に大きくして、長時間にわたる測定データを連続的に格納できる測定器を提供すること。【解決手段】 測定データの格納周期が任意に設定できる測定器であって、測定データ格納手段として書込み速度が高速な第1のメモリと書込み速度が第1のメモリよりも低速な第2のメモリとを設け、設定された格納周期に応じて測定データを第1のメモリまたは第2のメモリに格納することを特徴とするもの。
Claim (excerpt):
測定データの格納周期が任意に設定できる測定器であって、測定データ格納手段として書込み速度が高速な第1のメモリと書込み速度が第1のメモリよりも低速な第2のメモリとを設け、設定された格納周期に応じて測定データを第1のメモリまたは第2のメモリに格納することを特徴とする測定器。
IPC (4):
G01D 9/04
, G01D 9/00
, G06F 17/40 310
, G06F 17/40 330
FI (4):
G01D 9/04
, G01D 9/00 U
, G06F 17/40 310 B
, G06F 17/40 330 D
F-Term (3):
2F070CC08
, 2F070DD05
, 2F070FF05
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