Pat
J-GLOBAL ID:200903084621853982
毛形状の測定方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (3):
羽鳥 修
, 松嶋 善之
, 前田 秀一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004377808
Publication number (International publication number):2006181100
Application date: Dec. 27, 2004
Publication date: Jul. 13, 2006
Summary:
【課題】被験部位の画像データから毛の形状を容易に把握可能とし、各種の測定を画像処理によりスムーズに行える毛形状の測定方法を提供する。【解決手段】被験部位28を含んで撮影した画像データを記憶する第1ステップ15と、画像データから毛画像を含む領域16を抽出して画像処理を行う第2ステップ17とからなり、第2ステップ17は、毛画像を含む領域16での各画素の直交する2方向の明るさの勾配を計算する第1サブステップ18と、該勾配から各画素の主方向を計算する第2サブステップ19と、各画素の近傍領域での主方向の代表値を計算する第3サブステップ20と、該代表値の方向と直交する方向の各画素の画素値を比較して最大値又は最小値をとり、近傍領域における勾配の大きさの平均値がしきい値以上の画素の領域を骨格領域22として計算する第4サブステップ21とを含み、骨格領域22の連続性からて毛の連続性を判断する。【選択図】図1
Claim (excerpt):
肌を撮影した画像から画像処理によって毛の形状を測定する毛形状の測定方法であって、
被験部位を含んで撮影した画像を画像データとして記憶する第1ステップと、該第1ステップによって得られた画像データから毛画像を含む領域を抽出し、該毛画像を含む領域の画像処理を行う第2ステップとからなり、
前記画像処理を行う第2ステップは、前記毛画像を含む領域における画像データの各画素の直交する2方向の明るさの勾配を計算する第1サブステップと、該直交する2方向の明るさの勾配から各画素の勾配の大きさ及び主方向を計算する第2サブステップと、該勾配の大きさ及び該主方向から各画素の近傍領域における勾配の大きさの平均値及び主方向の代表値を計算する第3サブステップと、該勾配の大きさの平均値が一定の値より大きな画素について該主方向の代表値の方向と直交する方向の各画素の画素値を比較して最大値又は最小値をとる画素の領域を骨格領域として計算する第4サブステップとを含み、
該骨格領域の連続性によって、前記毛の連続性を判断する毛形状の測定方法。
IPC (3):
A61B 5/107
, G06T 1/00
, G06T 7/60
FI (3):
A61B5/10 300P
, G06T1/00 290Z
, G06T7/60 150S
F-Term (32):
4C038VA04
, 4C038VB21
, 4C038VC01
, 4C038VC05
, 5B057AA07
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB02
, 5B057CB06
, 5B057CB12
, 5B057CB17
, 5B057CE12
, 5B057CE15
, 5B057CF05
, 5B057DA08
, 5B057DA13
, 5B057DB02
, 5B057DB09
, 5B057DC09
, 5B057DC16
, 5B057DC22
, 5L096AA06
, 5L096BA03
, 5L096BA06
, 5L096BA13
, 5L096EA43
, 5L096FA03
, 5L096FA06
, 5L096FA73
, 5L096GA02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
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毛髪成長度測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-244807
Applicant:株式会社資生堂, 川崎製鉄株式会社
Cited by examiner (3)
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画像処理方法および画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-299581
Applicant:オムロン株式会社
-
画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-071869
Applicant:富士通株式会社
-
光学部材検査装置,画像処理装置,及び、コンピュータ可読媒体
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平10-211535
Applicant:旭光学工業株式会社
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