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J-GLOBAL ID:200903084627027391
歪測定装置及び方法
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
Agent (1):
鈴江 武彦 (外5名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998363048
Publication number (International publication number):1999257928
Application date: Dec. 21, 1998
Publication date: Sep. 24, 1999
Summary:
【要約】【課題】測定対象にて温度変化がある場合でも、光ファイバの歪を高精度に計測し、測定対象の歪測定を行なえる歪測定装置及び方法を提供すること。【解決手段】光ファイバ8を測定対象(1)に設け、前記光ファイバ8の歪分布を計測することで前記測定対象(1)に生じた歪を検出する歪測定装置であり、前記光ファイバ8を熱処理する熱処理手段と、この熱処理手段により熱処理された前記光ファイバ8の歪分布を温度補正演算を行ない計測する歪計測手段(6)と、を具備。
Claim (excerpt):
光ファイバを測定対象に設け、前記光ファイバの歪分布を計測することで前記測定対象に生じた歪を検出する歪測定装置であり、前記光ファイバを熱処理する熱処理手段と、この熱処理手段により熱処理された前記光ファイバの歪分布を温度補正演算を行ない計測する歪計測手段と、を具備したことを特徴とする歪測定装置。
Patent cited by the Patent:
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