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J-GLOBAL ID：200903084634728826

磁粉探傷方法及びその装置

Inventor： 西峯 保 ,  津山 修 ,  川上 哲男 ,  松本 修二
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994219247
Publication number (International publication number)：1996082616
Application date： Sep. 13, 1994
Publication date： Mar. 26, 1996
Summary：

【要約】【目的】 疵種の弁別が自動で行える磁粉探傷方法及びその実施に使用する装置を提供すること。【構成】 撮像信号を基準値SL1,SL2,SL3にて2値化し、先ず基準値SL2による2値化画像Guを取り込む。この2値化画像Guに現れている疵画像の実面積及び横方向長さから切断疵等の深い疵か否かを判断する。基準値SL3による2値化画像Ghを取り込む。この2値化画像Ghの各疵画像の実面積,横方向長さ,縦横比,縦方向長さ,及び面積比からヘゲ疵か否かを判断する。2値化画像Ghからヘゲ疵を除いた疵画像の実面積,横方向長さ,縦横比,縦方向長さ,及び面積比から線状疵であるか否かを判断する。そして以上の結果を統合して疵弁別を行う。

Claim (excerpt)：

磁化された鋼片の表面に蛍光磁粉を付着させ、該蛍光磁粉に励起光を照射して発せられる蛍光を撮像して疵を探傷する方法において、疵種類に応じて異なる複数の輝度の基準値と、疵種の弁別に使用する特徴量の範囲を限定するための閾値とを予め設定し、各基準値に基づいて撮像信号を2値化した複数の2値化画像を作成し、該2値化画像から所定の特徴量を算出し、該特徴量と予め設定された前記閾値とに基づいて所定の演算を行い、この演算結果に基づいて疵種を弁別することを特徴とする磁粉探傷方法。

IPC (2)：

G01N 27/84 ,  G01N 21/91

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 自動磁粉探傷装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-199847   Applicant：新日本製鐵株式会社, ニッテツ北海道制御システム株式会社
• シート状製品の表面ムラ検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-294334   Applicant：石川島播磨重工業株式会社
• 特開平4-289452
  
• 特開昭48-090289