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J-GLOBAL ID：200903084711319721
飛行時間型質量分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001046512
Publication number (International publication number)：2002245964
Application date： Feb. 22, 2001
Publication date： Aug. 30, 2002
Summary：
【要約】【課題】イオンが飛行時間型分光部内で開裂しても、マススペクトルのS/N比の低下を招かず、しかも、イオン検出器のダイナミック・レンジが狭くなる問題をも回避することのできる飛行時間型質量分析装置を提供する。【解決手段】飛行時間型分光部内で開裂したイオンを反射すると共に、飛行時間型分光部内で開裂しなかったイオンを通過させるように電位設定された減速電場と、イオンが減速電場に入射したときの速度を超える速度に到達するまでイオンを加速させるように電位設定された再加速電場とを、イオン検出器の直前に設けた。
Claim (excerpt)：
イオン源と、飛行時間型分光部と、イオン検出器とを備えた飛行時間型質量分析装置において、飛行時間型分光部内で開裂したイオンを反射すると共に、飛行時間型分光部内で開裂しなかったイオンを通過させるように電位設定された減速電場を、イオン検出器の直前に設けたことを特徴とする飛行時間型質量分析装置。
IPC (3)：
H01J 49/40
, G01N 27/62
, H01J 49/06
H01J 49/40
, G01N 27/62 K
, H01J 49/06
