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J-GLOBAL ID:200903084720776558

レーザ加工の制御

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 三品 岩男 ,  大関 光弘 ,  西村 雅子
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2002537486
Publication number (International publication number):2004512690
Application date: Oct. 26, 2001
Publication date: Apr. 22, 2004
Summary:
UVレーザビームは、半導体を加工するために利用される。ビーム強度(IB)は、IBの増大につれて材料除去速度が増大(好ましくは線形)するような値の範囲内にあるように選択される。溝またはスロットのような細長い形状が、z方向のz_integerの各値について、横方向にオフセットした(O_centre)n回のスキャンで加工される。
Claim (excerpt):
レーザビームを用いて半導体材料を加工する方法であって、 強度IBのレーザビームを用いて材料に幅Sの構造が加工され、かつ、 カーフKの材料を加工するためにビームが制御される方法において、 ビームは、n回(n≧1)走査するように制御され、n>1であるとき、各連続スキャンは、先行スキャンに対して平行でかつ横方向にオフセットされ、n≧S/Kであることを特徴とする方法。
IPC (3):
H01L21/301 ,  B23K26/00 ,  B23K26/14
FI (4):
H01L21/78 B ,  B23K26/00 H ,  B23K26/00 M ,  B23K26/14 A
F-Term (7):
4E068AD00 ,  4E068AE00 ,  4E068AF00 ,  4E068CC01 ,  4E068CE02 ,  4E068CG01 ,  4E068DA10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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