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J-GLOBAL ID：200903084796821790
機械の運動精度測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
鎌田 文二 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992116097
Publication number (International publication number)：1993309548
Application date： May. 08, 1992
Publication date： Nov. 22, 1993
Summary：
【要約】【目的】 本発明は、機械の円運動と直線運動の精度を共に測定でき、円運動において各回動位置における変位量を測定できる装置を提供する。【構成】 回転軸7の下端に、エンコーダ8を連結し、回転軸7の上端に取付けた直線ガイド9に、主軸1に装着した検出棒3の移動量を検出するリニアスケール13を取付ける。円運動精度は、検出棒3を回転軸を中心に回転させた場合の移動量で検出し、直線運動精度は、検出棒3を直線ガイド9に沿って移動させた場合の回転量で検出する。
Claim (excerpt)：
相対移動する2つの物体の一方に回転軸を、他方に、その回転軸に平行な検出棒を取付け、上記回転軸の一端に、回転量を検出する回転量検出手段を連結し、他端に、回転軸の軸線と直交して上記検出棒が移動可能に係合する直線ガイドを取付け、その直線ガイドに、検出棒の移動量を検出する移動量検出手段を設けた機械の運動精度測定装置。
IPC (2)：
B23Q 17/00
, G01B 21/20 101
