Pat
J-GLOBAL ID：200903084867832437
検眼測定装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
日比谷 征彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998048937
Publication number (International publication number)：1999225963
Application date： Feb. 13, 1998
Publication date： Aug. 24, 1999
Summary：
【要約】【課題】 不正乱視を含む被検眼のリング像を精度良く解析して正確な検眼測定を行う。【解決手段】 CCD撮像素子9の素子要素は矩形状とされ、線L、B方向に沿って配列されており、フレームメモリには画像信号が概略素子要素毎に記憶され、また信号強度が8ビット程度にデジタル化して記憶される。演算手段でリング像I部分の2つの山のピーク位置を演算し、縦線L、横線Bの各線についてピーク位置を求めて交点とし、これらの交点を通る曲線を最小二乗法により楕円に回帰して特定して、その楕円の大きさから球面屈折値、楕円率から乱視度数、楕円主軸方向から乱視軸角度をそれぞれ求める。
Claim (excerpt)：
被検眼に光束を投影し、被検眼からの反射光をエリアアレイセンサにリング像として受光し、該リング像の形状を解析して検眼測定を行う検眼測定装置において、前記エリアアレイセンサ上のアレイ配列方向と直交する複数の線と前記リング像との交点の位置から前記リング像の形状を特定して検眼測定を行うことを特徴とする検眼測定装置。
FI (2)：
A61B 3/10 M
, A61B 3/10 H
