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J-GLOBAL ID：200903084940496599
熱電素子の通電試験方法および熱電素子の通電試験装置
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
浅見 保男 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999359157
Publication number (International publication number)：2001174497
Application date： Dec. 17, 1999
Publication date： Jun. 29, 2001
Summary：
【要約】【課題】 大容量の電源を必要とすることなく、熱電素子の発熱側の温度を所定の温度に容易に維持できる熱電素子の検査装置を提供する。【解決手段】 本発明の熱電素子の通電試験装置は、複数の熱電素子Xを収納する恒温槽10と、複数の熱電素子Xを複数組に組分けして導電接続する接続線A,Bと、複数の熱電素子Xに電流を供給する熱電素子用電源20と、複数の熱電素子Xの発熱側を加熱するホットプレート11a,11b,11c,11dと、加熱された複数の熱電素子Xの発熱側の温度を所定の温度に制御する温度コントローラ40と、複数の熱電素子Xの電気的特性を測定する電圧・電流計30と、組分けして導電接続された複数の熱電素子Xの1組毎に順次切り換えて熱電素子用電源20から給電するCh.セレクタ50とを備えている。
Claim (excerpt)：
複数の熱電素子を所定の温度に保持するとともに、該熱電素子に電流を供給して、該熱電素子の電気的特性を測定する熱電素子の通電試験方法であって、複数組に組分けして導電接続された前記複数の熱電素子を収納槽に収納した後、前記収納槽内の温度を所定の温度に制御するとともに、前記組分けして導電接続された前記複数の熱電素子の1組毎に順次切り換えて所定の電流を供給するようにしたことを特徴とする熱電素子の通電試験方法。
IPC (2)：
FI (2)：
F-Term (3)：
2G036AA27
, 2G036BA46
, 2G036BB09
