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J-GLOBAL ID:200903085045468292

発光測定による直列分析を実施するための測定装置及び方法並びに直列分析のための液体試料を収容する多重容器

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 伊藤 武久 (外1名)
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):1996507018
Publication number (International publication number):1998504389
Application date: Aug. 11, 1995
Publication date: Apr. 28, 1998
Summary:
【要約】本発明は、被検査対象物と被検査対象物を結合させる磁化可能な担体粒子とを含んでいる液体試料(12)を発光測定により直列分析するための測定装置及び方法に関する。試料を、多重容器(14)の容器ユニット(30)に収容して搬送経路(16)内を測定ステーション(18)へ搬送し、そこで検出されるべき目的物質の濃度を発光測定により測定する。測定を阻害する余剰の反応成分を除去するため、多重容器(14)をして回転する複数の永久磁石(20-27)の傍を通過させる。永久磁石(20-27)は、そのこん棒状の磁場(80)で容器ユニット(30)に順次侵入し、且つ反対側の壁領域(40)から侵入する。その際担体粒子は、螺旋軌道に沿って試料液中を移動し、ペレット(92)として集積される。次に、担体粒子から剥離した余剰の反応成分を、噴射吸引過程で除去する。
Claim (excerpt):
被検査対象物としての反応成分とこの反応成分を結合させている磁化可能な担体粒子とを含んだ液体試料(12)を発光測定により直列分析するための測定装置であって、搬送経路(16)内を測定ステーション(18)へ搬送可能で、液体試料を収容している試料室(30)と、試料室(30)の搬送中に磁場(80)により試料室(30)に作用を及ぼす永久磁石(68)と、有利には吸引噴射装置を備え、磁場(80)の作用で試料室(30)の壁領域に蓄積する担体粒子から分離された余剰の反応成分を除去するための分離ステーション(28)とを有している前記測定装置において、それぞれ一つの試料室を形成している容器ユニット(30)を互いに直列状に結合させて成る多重容器(14)と、搬送経路(16)に沿って互いに間隔を持って配置される少なくとも二つの永久磁石(20-27)とを有し、永久磁石(20-27)の磁場(88,80)が、永久磁石(20-27)のそばを通過するように搬送可能な容器ユニット(30)に順次侵入し、且つ互いに対向している壁領域(40,44)から侵入するようにしたことを特徴とする測定装置。
IPC (3):
G01N 33/553 ,  G01N 33/536 ,  G01N 35/02
FI (3):
G01N 33/553 ,  G01N 33/536 D ,  G01N 35/02 Z
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)
  • 特開平2-161358

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