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J-GLOBAL ID：200903085065694523

比較的低温物体の表面温度測定方法

Inventor： 真野 豊司
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 押田 良久
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992082834
Publication number (International publication number)：1993248957
Application date： Mar. 03, 1992
Publication date： Sep. 28, 1993
Summary：

【要約】【目的】 比較的低温領域にあり、かつ放射率の低い測定対象物体の表面を高速で精度良く連続的に測定する。【構成】 放射温度計が測定対象物体を見通す位置に水冷遮蔽板を設けて表面温度を測定するに当り、水冷遮蔽版及び周囲物体からの迷光雑音の影響を測定距離の関数としてこれを定量化し、放射温度計が捉えた赤外線の総合検出値から定量化された迷光雑音分を除去補正し、測定対象物体の表面温度を高精度に測定する。【構成】 温度が150°C以下で放射率の低い移動物体、例えば、鉄鋼業における冷間圧延中の鋼板その他の帯状材の表面温度測定において、高速で精度の良い連続的温度測定が可能である。

Claim (excerpt)：

放射温度計が比較的低温領域にある測定対象物体を覗き見る位置に覗筒を設け、該覗筒の先端部には中央部に覗開口を有し黒化処理された水冷遮蔽板を取付け、該水冷遮蔽板と周囲物体の温度を測定する温度計を設け、測定対象物体から放射される赤外線を前記水冷遮蔽板の覗開口をとおして検出することによる測定対象物体の表面温度測定方法において、前記水冷遮蔽板及び周囲物体からの迷光雑音による影響を水冷遮蔽板と測定対象物体との距離の関数としてとらえ、水冷遮蔽板と測定対象物体との距離の変化に伴う放射温度計の出力変化を測定すると共に、水冷遮蔽板及び周囲物体の温度を測定することによって迷光雑音を定量化し、該定量化された迷光雑音で放射温度計が捕捉した赤外線総合検出値を補正することを特徴とする比較的低温物体の表面温度測定方法。