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J-GLOBAL ID：200903085071788548

放射線検査装置及びそれを用いた検査システム

Inventor： 北口 博司 ,  出海 滋 ,  宮井 裕史 ,  佐藤 克利 ,  渡邊 康子 ,  服部 行也
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996082330
Publication number (International publication number)：1997274083
Application date： Apr. 04, 1996
Publication date： Oct. 21, 1997
Summary：

【要約】【課題】本発明の目的は、大型構造物を高速,高感度に撮像可能にする高エネルギーX線検査装置とそのシステムを提供することである。【解決手段】加速器で発生させるファン状の放射線の放射角度に実質的に平行に貫通させた複数の細孔を有する2次元コリメータと前記細孔に入射してきた放射線を検出するための複数のシンチレーション検出器を設置し、その光出力を光学的に伝送して撮像する。

Claim (excerpt)：

放射線発生装置と、前記放射線発生装置から被検体に照射したファン状放射線を検出し、光に変換する放射線検出手段を有する放射線検査装置において、前記放射線検出手段は前記ファン状放射線の放射角度に実質的に平行に貫通させた複数の細孔を有する2次元コリメータと、前記複数の細孔に入射してきた放射線を検出する複数のシンチレータを有することを特徴とする放射線検査装置。

IPC (4)：

G01T 1/20 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01T 7/00

FI (4)：

G01T 1/20 Z ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/18 ,  G01T 7/00 B

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 特開平1-276050
  
• 特開平1-084140
  
• 特開昭60-137350
  
• 特開平4-287580