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J-GLOBAL ID：200903085100369436
光測定装置
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
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Agent (1)：
長谷川 芳樹 (外3名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995176101
Publication number (International publication number)：1997026426
Application date： Jul. 12, 1995
Publication date： Jan. 28, 1997
Summary：
【要約】【目的】 発光が短時間に起こる場合であっても迅速に測定ができる光測定装置を提供する。【構成】 暗箱500内の分注位置P1、P2に保持されたマイクロプレートの各ウエルに対して、分注器110、120が試薬の一括分注を行う。分注結果、各ウエル内のサンプルと試薬との相互作用によって分注位置P2発光が起きる。マイクロプレート900のウエルの底面が光透過部材からなるので、発光現象による光の一部はマイクロプレートの底面側に出射される。こうして底面側に出射された光は光学系400に入力し、光学系によってマイクロプレートの底面側から見た像が、撮像器600の受光面上に結像され、撮像される。この撮像結果を処理することにより、多サンプルと試薬との相互作用によって発生する光の測定がマイクロプレート900の各ウエルについて一挙に行われる。
Claim (excerpt)：
測定対象物が投入されたマイクロプレートのウエルに試薬を注入し、前記測定対象物と前記試薬との相互作用によって発生する光を測定する光測定装置であって、前記マイクロプレートのウエルの底面が光透過部材からなるとともに、前記光測定装置は、所定位置で保持された前記マイクロプレートの各ウエルに同時に前記試薬を分注する分注手段と、前記所定位置での前記マイクロプレートの底面側から見た前記マイクロプレートの像を結像する光学系と、前記マイクロプレート、前記分注手段、および前記光学系を収納するとともに、遮光部材から成る暗箱と、前記光学系の結像面に受光面を有し、前記マイクロプレートの底面側から見た像を撮像する撮像手段と、を備えることを特徴とする光測定装置。
IPC (2)：
FI (2)：
G01N 35/02 Z
, G01N 21/77 B
Cited by examiner (6)
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