Pat
J-GLOBAL ID：200903085140255468
機器/設備の診断システム
Inventor：
,
,
,
,
,
,
,
,
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994122868
Publication number (International publication number)：1995055868
Application date： Mar. 20, 1989
Publication date： Mar. 03, 1995
Summary：
【要約】【目的】 定期点検での測定法を未熟練者にも教示することができ、専門家以外にも、測定データのチェック、総合判定が迅速に行なえる機器/設備の診断システムを提供する。【構成】 データを入力する入力装置20と、オペレータに対する指示および処理結果を表示する出力装置12と、これらの装置が接続され、診断のためのデータの収集および診断を行うコンピュータ2とを備える。前記コンピュータは、オペレータにたいして点検すべき事項および手法を、出力装置12を介して教示する。また、前記入力データに基づいて、余寿命を推定する。さらに、前記余寿命を含む、機器/設備の状況を、出力装置12を介して報告する。
Claim (excerpt)：
データを入力する入力装置と、オペレータに対する指示および処理結果を表示する出力装置と、これらの装置が接続され、診断のためのデータの収集および診断を行うコンピュータとを備える機器/設備の診断システムにおいて、前記コンピュータは、オペレータにたいして点検すべき事項および手法を、出力装置を介して教示する機能を有する測定支援手段と、前記入力データに基づいて、余寿命を推定する余寿命推定手段と、前記余寿命を含む、機器/設備の状況を、出力装置を介して報告する状況報告手段とを備えることを特徴とする機器/設備の診断システム。
IPC (4)：
G01R 31/00
, G01M 19/00
, H02K 11/00
, H04Q 9/00 311
Cited by examiner (9)
Show all
Return to Previous Page
