Pat

J-GLOBAL ID：200903085149496468

超音波診断装置

Inventor： 鈴 木 隆 夫 ,  萩 原 尚 ,  福 喜 多 博
Applicant, Patent owner： 松下電器産業株式会社
Agent (1)： 蔵合 正博
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998300168
Publication number (International publication number)：2000126176
Application date： Oct. 21, 1998
Publication date： May. 09, 2000
Summary：

【要約】【課題】 機械走査式超音波診断装置において、小さい回路規模で多重エコー除去処理と合成開口処理を同時に行なうこと。【解決手段】 出力が遅延加算部7に接続された2つのメモリブロック5、6を備え、受信信号はディジタル化され、第1のメモリブロック5に記憶される。メモリブロック5に記憶された受信信号を読み出し、遅延加算部7で多重エコー除去処理を行なって第2のメモリブロック6に書き込む処理と、第2のメモリブロック6に記憶された多重エコー除去処理後の信号を読み出して、遅延加算部7で合成開口を行なう処理とを交互に行なうことにより、1つの遅延加算部7で多重エコー除去処理と合成開口処理を同時に実現する。

Claim (excerpt)：

合成開口処理と多重エコー除去処理を行なう機械走査式の超音波診断装置であって、機械走査方式の探触子と、A/D変換部と、受信信号を記憶する第1および第2のメモリブロックと、多入力多出力の遅延加算部とを有し、第1のメモリブロックに記憶された受信信号を読み出し、前記遅延加算部で多重エコー除去処理を行なって第2のメモリブロックに書き込む処理と、第2のメモリブロックに記憶された多重エコー除去処理後の信号を読み出して、前記遅延加算部で合成開口を行なう処理とを交互に行なうことを特徴とする超音波診断装置。

F-Term (8)：

4C301BB26 ,  4C301EE07 ,  4C301EE15 ,  4C301EE17 ,  4C301EE20 ,  4C301HH33 ,  4C301JB03 ,  4C301JC05