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J-GLOBAL ID：200903085159471676

SPECT装置

Inventor： 本村 信篤 ,  前田 壽登
Applicant, Patent owner： 学校法人藤田学園
Agent (8)： 鈴江 武彦 ,  河野 哲 ,  中村 誠 ,  蔵田 昌俊 ,  峰 隆司 ,  福原 淑弘 ,  村松 貞男 ,  橋本 良郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004351724
Publication number (International publication number)：2006133204
Application date： Dec. 03, 2004
Publication date： May. 25, 2006
Summary：

【課題】本発明の目的は、SPECT装置において、再構成前の段階で、空間分解能の低下を効果的に補正することにある。【解決手段】本発明に係るSPECT装置は、被検体に投与されたRIから放出される放射線をコリメータ3を介して検出する2次元検出器2と、RIと検出器との距離に依存性を有する空間分解能の低下を軽減するために、検出器で検出された投影角度の異なる複数の2次元投影分布を3次元の周波数空間上で当該距離に対応する複数の補正関数により補正するフィルタ処理部15と、補正された複数の2次元投影分布から3次元RI分布を再構成する再構成処理部18とを具備する。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検体に投与されたRIから放出される放射線をコリメータを介して検出する2次元検出器と、 前記RIと前記検出器との距離に依存性を有する空間分解能の低下を軽減するために、前記検出器で検出された投影角度の異なる複数の2次元投影分布を3次元の周波数空間上で前記距離に対応する複数の補正関数により補正する補正処理部と、 前記補正された複数の2次元投影分布から3次元RI分布を再構成する再構成部とを具備することを特徴とするSPECT装置。

IPC (2)：

G01T 1/161 ,  G06T 1/00

FI (3)：

G01T1/161 C ,  G01T1/161 B ,  G06T1/00 290C

F-Term (23)：

2G088EE02 ,  2G088FF04 ,  2G088GG18 ,  2G088GG20 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ06 ,  2G088JJ13 ,  2G088KK32 ,  2G088KK33 ,  2G088LL12 ,  5B057AA07 ,  5B057BA07 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC01 ,  5B057CE06 ,  5B057CG09 ,  5B057CH09 ,  5B057CH11

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• Fourier method for correction of depth-dependent collimator blurring
• Fourier method for correction of depth-dependent collimator blurring