Pat

J-GLOBAL ID：200903085229951980

伸縮自在な光ファイバーを用いた変位計およびその変位計を用いた計測システム

Inventor： 新井 邦彦 ,  宇川 隆 ,  藤岡 豊一 ,  市川 宜明
Applicant, Patent owner： 千代田化工建設株式会社
Agent (1)： 前原 清美
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1990072074
Publication number (International publication number)：1996014952
Application date： Mar. 23, 1990
Publication date： Jan. 19, 1996
Summary：

【要約】 電子出願以前の出願であるので要約・選択図及び出願人の識別番号は存在しない。

Claim (excerpt)：

伸縮自在な光ファイバーを用い、その光ファイバーの一端を、測定の対象となる一方の測定物となる固定物に固定し前記光ファイバーの他端を測定の対象となる他方の測定物となる移動物に直接或いは間接的に固定することにより測定対象物の伸縮をファイバー内を透過する光の光量変化、または反射波、干渉波を測定することによりファイバーの伸縮量を計測し、測定物の変位量を計測しうるようにした光ファイバー変位計

IPC (4)：

G01D 21/00 ,  G01B 11/16 ,  G01M 11/00 ,  G02B 6/00