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J-GLOBAL ID：200903085248596458

体積抵抗の連続測定方法とその装置

Inventor： 和田 昇
Applicant, Patent owner： 富士ゼロックス株式会社
Agent (1)： 小野寺 洋二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992263814
Publication number (International publication number)：1994118105
Application date： Oct. 01, 1992
Publication date： Apr. 28, 1994
Summary：

【要約】【目的】 測定子と被測定物表面の接触抵抗の影響を無くして精密な体積抵抗値を連続的に測定する。【構成】 測定子1を測定子ホルダ2に回動自在に取り付け、板バネ3と重り4で被測定物表面に一定の荷重をもって線または点接触で弾圧させる。測定子1と被測定物5の表面に倣って相対的に移動せてその抵抗値を連続的に測定する。【効果】 接触面積が小さいため、また被測定物の表面に倣って追従するため、接触抵抗の影響が測定値に及ばない。

Claim (excerpt)：

連続的な表面を持つ被測定物の体積抵抗の分布を連続的に測定するための体積抵抗の連続測定方法において、前記被測定物の表面に1次元で接触して前記被測定物に対して相対的に回転移動する測定子を用いて前記被測定物の体積抵抗の分布を連続的に測定することを特徴とする体積抵抗の連続測定方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (2)

• 特開昭60-211070
  
• 特開昭61-011671
  

Cited by examiner (2)

• 特開昭60-211070
  
• 特開昭61-011671