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J-GLOBAL ID：200903085264092079
X線透視装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993089138
Publication number (International publication number)：1994275394
Application date： Mar. 24, 1993
Publication date： Sep. 30, 1994
Summary：
【要約】【目的】 X線を利用した非接触センシングによる微小部分の拡大透視画像による検査または解析システムにおいて、X線装置に対し熟練性又はX線の知識を持たない人或は、未知の被観測物に対し明瞭な透視画像を俊敏に提供することを目的とする。【構成】 X線透過画像を撮像手段で撮像し、シェーディング補正を行った後、このデータを周波数分析することで透過画像の特性と透視画像全体の濃淡差の平均値を検出し、該濃淡差の平均値と前記透過画像の特性およびX線の線質及び強度との関係からX線管の管電圧、管電流値を制御することを特徴とするX線透視装置。
Claim (excerpt)：
X線透過画像を撮像手段で撮像し、シェーディング補正を行った後、このデータを周波数分析することで透過画像の特性と透視画像全体の濃淡差の平均値を検出し、該濃淡差の平均値と前記透過画像の特性およびX線の線質及び強度との関係からX線管の管電圧、管電流値を制御することを特徴とするX線透視装置。
IPC (2)：
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