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J-GLOBAL ID：200903085271324775

機器/設備診断方法およびシステム

Inventor： 上野 雄一郎 ,  米山 隆雄 ,  佐藤 弌也 ,  妹尾 誠 ,  田口 勇二
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所 ,  株式会社日立エンジニアリングサービス
Agent (1)： 富田 和子
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994048886
Publication number (International publication number)：1995168619
Application date： Mar. 18, 1994
Publication date： Jul. 04, 1995
Summary：

【要約】【目的】 異常の発生確率の高い回転上昇時や負荷変動時などの非定常運転時においても、異常の種類や進展度合いを的確に診断できる複合センシング診断方法を提供するにある。【構成】 現象解析処理は、異常が既知である対象について、各種測定を行うと共に、測定値に基づいて、それらの特徴を表す特徴量(パラメータ)を抽出して、抽出したパラメータと異常との関係を解析して、異常を表すパラメータ間の相関を求めて、異常の種別および程度を特定するために用いる有効相関パターンを予め決定しておく。診断処理は、機器/設備の実機について、各種測定を行い、その測定値に基づいてパラメータを抽出すると共に、パラメータ間相関を算出し、予め求めてある有効相関パターンと比較して、異常の種別を判定し、当該機器/設備の異常を診断する。

Claim (excerpt)：

診断対象について、複数のセンサを配置し、前記各センサにより対象を計測して、得られた検出信号に基づいて機器/設備の診断を行う方法において、各センサの検出信号から診断対象に関する特徴量を抽出し、各特徴量間の相関値を求め、これらの相関値を、異常種別ごとに予め求められている、各特徴量間の相関パターンとを比較して、異常種別を判定することを特徴とする機器/設備の診断方法。

IPC (2)：

G05B 23/02 302 ,  G05B 23/02