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J-GLOBAL ID：200903085362427267

GPS測距装置およびGPS測距方法

Inventor：
井澗 健二

About 井澗 健二


Applicant, Patent owner：
古野電気株式会社

About 古野電気株式会社


Agent (1)： 小森 久夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995003456
Publication number (International publication number)：1996194052
Application date： Jan. 12, 1995
Publication date： Jul. 30, 1996
Summary：
【要約】 (修正有)【目的】電離層の影響による進み誤差を修正し、距離測定の精度の向上を可能にしたGPS測距方法および装置を提供する。【構成】GPS信号受信部1が受信したL1 波のドップラ周波数dおよび距離データであるC/Aコード位相データCをドップラ支援処理部11およびドップラ周波数積算部12に入力する。ドップラ支援処理部11では、位相データCをドップラ周波数dを用いて平均化したキャリアスムーズ値Sを算出する。一方、ドップラ周波数積算部12では、ドップラ周波数を積算して、現在の距離であるキャリア位相値r(t)を算出する。これは1周期19cmのL1 波に基づく精度である。キャリア位相値r(t)からキャリアスムーズ値S(t)を減算した値に基づいてディスパーション補正量P(t)を算出し、これを減算することによってL1 波の精度であるキャリアベース値を割り出す。
Claim (excerpt)：
GPS衛星からGPS信号を受信し、このGPS信号に含まれるコードデータの位相に基づいて該GPS衛星との距離を測定するコード測距手段と、前記GPS信号の搬送波の位相を積算することにより該GPS衛星との距離を測定するキャリア測距手段と、該コード測距手段およびキャリア測距手段の測定結果の差の変化傾向を求めるディスパーション予測手段と、ディスパーション予測手段が予測した差の変化傾向に基づき、前記キャリア測距手段の測定結果を修正するキャリア測距修正手段と、からなるGPS測距装置。
IPC (2)：
G01S 11/02 ,  G01S 5/14
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (4)
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Cited by examiner (1)

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