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J-GLOBAL ID：200903085427024440
蛍光X線分析装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
岡田 和秀
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991287702
Publication number (International publication number)：1993126998
Application date： Nov. 01, 1991
Publication date： May. 25, 1993
Summary：
【要約】【目的】 試料からの蛍光X線を一次ソーラスリットを通して平行ビームとして取り出す蛍光X線分析装置において、検出感度を低下させることなく従来よりも一層S/N比を向上させる。【構成】 一次ソーラスリット6の前段に、試料2の形状の大小に応じた口径を有しかつ試料2側に突設した筒状部4a,4b,4cを備えた視野制限用絞り4が配置されている。
Claim (excerpt)：
試料からの蛍光X線を一次ソーラスリットを通して平行ビームとして取り出す蛍光X線分析装置において、前記一次ソーラスリットの前段に、前記試料の形状の大小に応じた口径を有しかつ試料側に突設した筒状部を備えた視野制限用絞りが配置されていることを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
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