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J-GLOBAL ID:200903085463584401
データ解析方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
酒井 昭徳
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002182064
Publication number (International publication number):2004029971
Application date: Jun. 21, 2002
Publication date: Jan. 29, 2004
Summary:
【課題】生産工程における生産装置や処理時刻のデータの中から所望するデータ解析に必要なデータのみを容易に抽出でき、歩留り向上に有効な解析結果を得ることができること。【解決手段】データ抽出手段31は、データの説明変数に対しデータ項目のカテゴリを識別する付加文字列を付加し、データクレンジング/特徴化手段32は、データの異常値を特定値に置換あるいは削除するデータクレンジングを行い、データの目的変数の変動に基づく特徴情報を得る。データ解析手段33は、解析処理時にデータのカテゴリを認識しカテゴリに対応した条件設定及び解析手順によりデータ解析を効率的に自動実行できるようになる。【選択図】 図3
Claim (excerpt):
所望するデータ解析に必要なデータをオリジナルデータの中から抽出するデータ抽出工程と、
前記データ抽出工程により抽出されたデータの異常値をデータクレンジングするデータクレンジング工程と、
前記データクレンジング工程によりデータクレンジングされたデータの特徴情報を求める特徴化工程と、
前記特徴化工程により求められた特徴情報を用いてデータの解析を行うデータ解析工程と、
を含むことを特徴とするデータ解析方法。
IPC (3):
G06F17/60
, G05B19/418
, G06F19/00
FI (3):
G06F17/60 108
, G05B19/418 Z
, G06F19/00 130
F-Term (4):
3C100AA68
, 3C100BB15
, 3C100BB27
, 3C100EE06
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
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データ解析装置およびデータ解析方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-284578
Applicant:富士通株式会社
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データ分析方法および装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-239437
Applicant:株式会社日立製作所
-
データ集計システム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-248545
Applicant:株式会社バルク
-
対話的モデル作成方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-330102
Applicant:株式会社日立製作所, 日立コンピュータエンジニアリング株式会社
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Article cited by the Patent:
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