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J-GLOBAL ID：200903085490594664
減衰全反射プリズムを用いた赤外スペクトル測定法
Inventor：
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Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
高橋 明夫 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992133370
Publication number (International publication number)：1993322746
Application date： May. 26, 1992
Publication date： Dec. 07, 1993
Summary：
【要約】【目的】 減衰全反射プリズムを用いて液体試料の吸収赤外スペクトルを測定する場合に、その吸収スペクトルの高感度化及び再現性向上を図る【構成】 減衰全反射プリズム1上に直接、又はスペ-サ-5の厚さの液体試料3介して中間層8で被覆された金属薄膜2を設け、中間層8と接触するように減衰全反射プリズム1上に液体試料3を導入する。中間層8は省略可、また、プリズム1上に有機薄膜7を設けてもよい。【効果】液体試料及び中間層の厚さを精密に制御できるため、減衰全反射プリズムから出射した光が全反射する際、試料中の光路長を一定に保ったまま金属と相互作用をすることができ、高感度赤外吸収スペクトルを再現性良く取得できる。
Claim (excerpt)：
赤外光を反射させつつ測定系に導く減衰全反射プリズムの光全反射面上に、直接、金属薄膜を形成し、さらにその上に液体試料を密着させ、且つ、前記金属薄膜は、前記赤外光が前記液体試料までしみ込むように薄く又は多孔質状に形成して、赤外吸収スペクトルを測定することを特徴とする減衰全反射プリズムを用いた赤外スペクトル測定法。
IPC (2)：
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
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