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J-GLOBAL ID：200903085551999883

超音波減衰係数測定方法

Inventor： 向井 一弘
Applicant, Patent owner： 非破壊検査株式会社
Agent (1)： 北村 光司
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000373413
Publication number (International publication number)：2002174627
Application date： Dec. 07, 2000
Publication date： Jun. 21, 2002
Summary：

【要約】【課題】 試験体の減衰係数を後方散乱波により定量的に求めることの可能な超音波減衰係数測定方法を提供すること。【解決手段】 減衰係数α=Afp (pは自然数)(1’)なる式において第一比例定数Aを適宜定めることにより減衰係数αを仮決めし、この減衰係数を利用して複数の周波数における後方散乱波強度の減衰補正を行うと共に基準化を行うことで補正後方散乱波強度Y’を求める。この補正後方散乱波強度Y’と測定周波数fとの間に第二比例定数Kを含むY’=Kf2 (2)なる相関が成立するようにこの式(2)について最小二乗近似を行い第二比例定数Kを定める。上述の手順において第一比例定数Aを適宜変更してY’とKf2 との相関が最も強くなる最適な第一比例定数Aを求め、上記式(1’)により材料の減衰係数αを求める。

Claim (excerpt)：

後方散乱波により材料の減衰係数αを求める超音波減衰係数測定方法であって、第一パラメーターA及び測定周波数fと減衰係数αとの間にα=G(A,f) (1)なる相関が存在し、この式(1)において第一パラメーターAを適宜定めることにより減衰係数αを仮決めし、この減衰係数を利用して複数の周波数における後方散乱波強度の減衰補正を行うと共に基準化を行うことで補正後方散乱波強度Y’を求め、この補正後方散乱波強度Y’と測定周波数fとの間に第二比例定数Kを含むY’=Kf2 (2)なる相関が成立するようにこの式(2)について最小二乗近似を行い第二比例定数Kを定めると共に、上述の手順において第一パラメーターAを適宜変更してY’とKf2 との間の相関が最も強くなる最適な第一パラメーターAを求め、上記式(1)により材料の減衰係数αを求める超音波減衰係数測定方法。

IPC (2)：

G01N 29/20 ,  G01N 29/22 501

FI (2)：

G01N 29/20 ,  G01N 29/22 501

F-Term (10)：

2G047BB06 ,  2G047BC03 ,  2G047BC11 ,  2G047BC14 ,  2G047DB12 ,  2G047GF11 ,  2G047GG09 ,  2G047GG36 ,  2G047GG37 ,  2G047GG41