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J-GLOBAL ID:200903085587129419

X線CT装置の画像処理方法及びX線CT装置並びにX線CT撮影用記録媒体

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 杉谷 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000106271
Publication number (International publication number):2001286463
Application date: Apr. 07, 2000
Publication date: Oct. 16, 2001
Summary:
【要約】【課題】金属等のX線高吸収体によるX線の吸収または散乱によって断層画像上に発生する偽像を低減させる【解決手段】本発明では、高吸収体領域を設定して、高吸収体を透過するパスに応じて重み付けを行うことによって、高吸収体領域を透過した部分のデータ及び重みを考慮した推定画像に更新する。高吸収体領域を透過した部分に関して実測投影データを、前記推定画像を順投影した更新推定投影データに応じたデータに置換して、実測投影データを修正して再構成することにより、アーティファクトが低減した高コントラストかつ高吸収体領域の重みを考慮した断層画像を得る。
Claim (excerpt):
X線CT撮影時に得られた画像データを再構成して断層画像を得る画像処理方法であって、(1)被検体の周りからX線を曝射し、被検体を透過したX線を検出することによって、実測投影データを得る撮像過程と、(2)前記撮像過程で得られた実測投影データにフィルタリングを施した後、逆投影して実測断層画像を再構成する第1の画像再構成過程と、(3)推定画像を任意の値で初期化して設定する推定画像設定過程と、(4)第1の画像再構成過程で導出された実測断層画像に基づき高吸収体領域を設定する高吸収体領域設定過程と、(5)推定画像を前記X線の曝射方向に順投影することによって、推定投影データを導出する推定投影データ導出過程と、(6)推定投影データと実測投影データとの差分または比を逆投影することに基づいて比較参照画像を導出する比較参照画像導出過程と、(7)X線が高吸収体を透過するパスが長くなるに従って、比較参照画像の各画素値の値が小さくなるように重み付けを行った重み付き比較参照画像を導出する重み付き比較参照画像導出過程と、(8)推定画像を重み付き比較参照画像によって更新する推定画像更新過程と、(9)前記推定画像更新過程で更新された推定画像に現れる偽像の程度に応じて、前記(5)から(8)までの各過程を1回または複数回にわたり繰り返し行って偽像が低減した推定画像に更新する繰り返し動作過程と、(10)前記繰り返し動作過程で更新された推定画像を順投影することにより更新推定投影データを導出する更新推定投影データ導出過程と、(11)高吸収体領域を透過した部分に関して実測投影データを、更新推定投影データに応じたデータに置換して実測投影データの修正を行う実測投影データ修正過程と、(12)修正された実測投影データを画像再構成して断層画像を導出する第2の画像再構成過程とを備えることを特徴とするX線CT装置の画像処理方法。
IPC (3):
A61B 6/03 350 ,  A61B 6/03 ,  G06T 1/00 290
FI (3):
A61B 6/03 350 X ,  A61B 6/03 350 F ,  G06T 1/00 290 A
F-Term (10):
4C093AA22 ,  4C093CA13 ,  4C093FE03 ,  4C093FE24 ,  5B057AA08 ,  5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057CA13 ,  5B057CB13 ,  5B057CE02

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