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J-GLOBAL ID：200903085624391862
IC試験装置の異常処理装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
草野 卓
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1991184694
Publication number (International publication number)：1993029430
Application date： Jul. 24, 1991
Publication date： Feb. 05, 1993
Summary：
【要約】【目的】 温度、煙センサ14、ファンセンサ15、電源などの異常検出に対する処理を確実にする。【構成】 IC試験装置11を制御する制御装置12にマイコンよりなる監視部21が設けられ、異常割込みは制御用コンピュータ16のみならず、監視部21にも入力され、異常処理が2重化されている。また監視部21は制御用コンピュータ16の動作異常を監視すると共にウオッチドッグタイマ18とは相互に異常を監視する。
Claim (excerpt)：
IC試験装置内で火災に結び付くような異常が検出されると、その異常検出出力が、そのIC試験装置を制御する制御装置の制御用コンピュータへ割込み、その制御用コンピュータがその異常を端末に表示すると共に上記IC試験装置及びその制御装置の電源を断にするIC試験装置の異常処理装置において、上記制御装置に設けられ、マイクロコンピュータで構成され、上記異常検出出力が割込みとして供給され、その割込みにより上記異常表示及び上記電源断を行う監視部を有することを特徴とするIC試験装置の異常処理装置。
IPC (3)：
H01L 21/66
, G01R 31/28
, G06F 1/00 340
