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J-GLOBAL ID：200903085657335259

測距装置

Inventor： 大門 照幸
Applicant, Patent owner： キヤノン株式会社
Agent (1)： 國分 孝悦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996032502
Publication number (International publication number)：1997229673
Application date： Feb. 20, 1996
Publication date： Sep. 05, 1997
Summary：

【要約】【課題】 スキムCCDセンサを用いた測距装置における暗電流や外光成分による測距精度の低下を軽減する。【解決手段】 第1のセンサーアレイ105から第1のCCD113までで構成される第1のスキムCCDセンサの出力OS1と第2のセンサアレイ106から第2のCCD114までで構成される第2のスキムCCDセンサの出力OS2を各々A/D変換した各信号のうち信号成分のない空転送部に漏れ込んだ信号に基づいて暗電流や外光成分による信号のレベル変動を検出し、その検出に応じて各信号を補正し、補正された各信号の相関をとることにより、被測距物までの距離を算出する。

Claim (excerpt)：

測距対象物からの光を受光する複数の光電変換素子を含む受光手段と、上記受光手段からの信号をA/D変換するA/D変換手段と、上記A/D変換された信号のレベル変動を検出し、その検出に基づいて上記A/D変換された信号を補正する補正手段と、上記補正手段により補正された信号に基づいて上記測距対象物までの距離を算出する距離算出手段とを備えた測距装置。

IPC (3)：

G01C 3/06 ,  G01B 11/00 ,  H04N 5/335

FI (3)：

G01C 3/06 A ,  G01B 11/00 B ,  H04N 5/335 Z

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 特開昭59-058309
  
• 特開昭59-058309