Pat
J-GLOBAL ID:200903085659266912

汚染/放射化放射能識別装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 須山 佐一 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1991190040
Publication number (International publication number):1993034462
Application date: Jul. 30, 1991
Publication date: Feb. 09, 1993
Summary:
【要約】【構成】β線測定手段2と、γ線測定手段1とを使用して、β線の測定値とγ線の測定値との比較によって、放射性廃棄物3が汚染物か放射化物かを識別することを特徴とする【効果】汚染物の場合汚染面におけるβ線/γ線計数率比と反対側の面のそれとの間には、顕著な差を生じる。測定対象物が放射化物である場合には、どの面の測定を行ってもβ線/γ線計数率比に差を生じることはない。本発明においてはこれを利用して汚染/放射化放射能の識別を行うものである。
Claim (excerpt):
β線測定手段と、γ線測定手段と前記β線測定手段にて測定されたβ線の測定値と前記γ線測定手段にて測定されたγ線の測定値との比較によって放射性廃棄物が汚染物か放射化物かを識別することを特徴とする汚染/放射化物識別手段とから成る汚染/放射化放射能識別装置。
IPC (2):
G01T 1/169 ,  G01T 1/167
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)
  • 特開昭63-308590
  • 特開昭63-070186

Return to Previous Page