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J-GLOBAL ID：200903085688699267

測距装置

Inventor：
野中 修

About 野中 修

, 
金田一 剛史

About 金田一 剛史


Applicant, Patent owner：
オリンパス光学工業株式会社

About オリンパス光学工業株式会社


Agent (1)： 鈴江 武彦 (外4名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1997283691
Publication number (International publication number)：1999118476
Application date： Oct. 16, 1997
Publication date： Apr. 30, 1999
Summary：
【要約】【課題】逆光時であっても正確な距離検出が行なえる測距装置を提供する。【解決手段】被写体の輝度分布を2つのセンサアレイによって2つの像信号として出力する測距装置において、2つの像信号に基づいて逆光状態か否かを判定する判定手段8と、逆光状態と判定された際に、2つの像信号から主要被写体輝度とその背景部輝度との差が大きい領域を抽出し、この領域の輝度差を少なくとも一方のセンサアレイに対応するエッジ信号として出力するエッジ検出手段9と、このエッジ信号で指定された領域からの像信号に基づいて、被写体の距離を演算するCPU10とを具備する。
Claim (excerpt)：
被写体の輝度分布を2つのセンサアレイによって2つの像信号として出力する測距装置において、上記2つの像信号に基づいて逆光状態か否かを判定する判定手段と、逆光状態と判定された際に、上記2つの像信号から主要被写体輝度とその背景部輝度との差が大きい領域を抽出し、この領域の輝度差を少なくとも一方のセンサアレイに対応するエッジ信号として出力するエッジ信号出力手段と、上記エッジ信号で指定された領域からの像信号に基づいて、被写体の距離を演算する演算手段と、を具備したことを特徴とする測距装置。
IPC (3)：
G01C 3/06 ,  G02B 7/30 ,  G03B 13/36
FI (3)：
G01C 3/06 V ,  G02B 7/11 A ,  G03B 3/00 A
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (2)

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