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J-GLOBAL ID：200903085910029704

近赤外線分析方法

Inventor： 藤岡 定和
Applicant, Patent owner： 井関農機株式会社
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992110319
Publication number (International publication number)：1993302890
Application date： Apr. 28, 1992
Publication date： Nov. 16, 1993
Summary：

【要約】【目的】 近赤外線を試料に照射して予め作成された検量線から未知試料の化学成分や物理特性値を推定する場合の試料の水分値による変動の影響を見る。【構成】 予め試料の近赤外線スペクトルの水分変化特性を記憶する手段を設け、作成した検量線に用いられた各波長の水分特性値により求める化学成分値の水分変化による特性値の差を求め、この特性値差と予め設定する評価基準値とを比較することによって水分変化に対する精度評価を行う。

Claim (excerpt)：

近赤外線を試料に照射し、その試料の化学成分値や物理特性値と照射した光の反射あるいは透過光量との相関により検量線を作成し、それによって未知試料の化学成分や物理特性値を推定するものにおいて、予めその試料の近赤スペクトルの水分変化特性を記憶する手段を設け、作成した検量線に用いられた各波長の水分特性値より求める化学成分値や物理特性値の水分変化による変動量を推定する近赤外分析方法。

IPC (2)：

G01N 21/35 ,  G01N 21/27