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J-GLOBAL ID：200903085923967886

粒子検出装置

Inventor： 坂田 雅一 ,  藤田 政行 ,  西尾 佳高 ,  柴田 賢一 ,  黒木 和彦
Applicant, Patent owner： 三洋電機株式会社
Agent (1)： 岡田 敬
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995037042
Publication number (International publication number)：1996233724
Application date： Feb. 24, 1995
Publication date： Sep. 13, 1996
Summary：

【要約】【目的】 複数の粒子径の粒子を簡単な光検出手段を用いて検出可能な粒子検出装置を提供することを目的とする。【構成】 粒子に光を照射するための光源手段1と、透光状態と光遮蔽状態の切り換え可能な光取出部が同心円上に配置され、光取出部を透光状態に選択することにより上記粒子により回折された回折光を部分的に透過せしめる遮蔽手段5と、該遮蔽手段を透過した回折光を検出する光検出手段7と、を備えた。

Claim (excerpt)：

粒子に光を照射するための光源手段と、独立に透光状態と光遮蔽状態の切り換えが可能な複数個の光取出部が同心円上に配置され、任意の光取出部を透光状態に選択することにより所望粒子により回折された回折光を部分的に透過するようにした遮蔽手段と、該遮蔽手段を透過した回折光を検出する光検出手段と、を備えたことを特徴とする粒子検出装置。

IPC (2)：

G01N 15/14 ,  G01N 21/53

FI (3)：

G01N 15/14 D ,  G01N 15/14 Q ,  G01N 21/53 Z