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J-GLOBAL ID:200903085979031026
発光シリコンを用いた測定法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998003776
Publication number (International publication number):1999201972
Application date: Jan. 12, 1998
Publication date: Jul. 30, 1999
Summary:
【要約】【課題】紫外線の照射に対して安定で、長期間保存しても劣化を生じにくい標識物質で標識された特異的結合物質の提供と、該標識特異的結合物質を用いて被測定物質を検出し又は定量する方法の提供を目的とする。【解決手段】光を照射すると発光する、発光シリコンで標識された特異的結合物質。
Claim (excerpt):
光を照射すると発光する、発光シリコンで標識された特異的結合物質。
IPC (3):
G01N 33/543 541
, G01N 33/543 575
, G01N 33/552
FI (3):
G01N 33/543 541 Z
, G01N 33/543 575
, G01N 33/552
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