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J-GLOBAL ID:200903086152536280

半導体ウエハ

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 大垣 孝
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1993028264
Publication number (International publication number):1994244437
Application date: Feb. 17, 1993
Publication date: Sep. 02, 1994
Summary:
【要約】【目的】 プロービングの際に半導体ウエハが破損するのを防止する。【構成】 1チップ分の集積回路46を形成するチップ領域44に隣接させてプローブ領域4850 を設ける。そしてチップ領域44の基板表側に設けたプロービング対象6466 をプローブ領域4850 の基板表側に設けた中継端子5254 と接続し、さらにこれら中継端子5254 をバイアホール6062 を介してプローブ領域4850 の基板裏側に設けたプローブ端子5658 と接続する。基板表側に補強用の支持材を貼りつけたままの状態で、基板表側のプロービング対象6466 を基板裏側のプローブ端子5658 を介しプローブ(探針)と電気接続してプロービングを行なえるので目的を達成できる。
Claim (excerpt):
基板と、該基板に設けた複数のチップ領域と、該チップ領域に設けた集積回路とを備えて成る半導体ウエハにおいて、チップ領域に隣接させて設けたプローブ領域と、該プローブ領域の基板表側に設けた中継端子と、前記プローブ領域の基板裏側に設けたプローブ端子と、前記プローブ領域の基板を貫通するバイアホールとを備え、チップ領域の基板表側のプロービング対象となる集積回路要素を、前記プローブ領域の中継端子及びバイアホールを介してプローブ端子と接続して成ることを特徴とする半導体ウエハ。
IPC (6):
H01L 29/804 ,  H01L 21/66 ,  H01L 21/90 ,  H01L 27/04 ,  H01L 21/338 ,  H01L 29/812
FI (2):
H01L 29/80 V ,  H01L 29/80 L

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